深圳驰宇微科技有限公司

管理体系三阶文件

LCM可靠性试验规定

1、 目    的

规范LCM产品进行的相关可靠性实验，确保产品质量满足客户及客户使用要求。

2、 使用范围

公司内部的所有LCM产品的可靠性测试

3、 定   义

可靠性：产品在规定的条件下和规定的时间内，完成规定功能的能力。

4、 实验项目

4.1  1-3适用于RD在设计试制样品时,需取样本要做的项目(第三项为新样品与更改IC后品,或RD有静电要求时进行)；

4.2  1-5项为首次批量生产时，需取样本要做的项目（第三项为有静电要求时）

4.3  6-7，12-13项为常规生产中需批量进行的试验，其中COG产品的老化时间与不良率控制规定根据产品客户要求不同允许适当调整，具体参考对应的控制计划。

4.4  8-11为常规产品的LCM寿命可靠性验证的实验，由试验员每月随机取1-2个型号进行。

4.5  对产品的特殊试验项目主要考虑产品在线出现异常时的进行，需根据异常的情况确定可靠性的方式，试验条件与要求并经负责试验的QE或品质主管批核，一般的对异常采取的可靠性验证方式参考如下：

4.5.1 对因组装问题而出现不稳定的缺陷,怀疑元件虚假焊或接触或接触性不良,对PIN脚产品的接触性,LCD上下层交叉短路,验证产品的包装可靠性等,一般采取振动试验(试验项目4)

4.5.2 验证热压纸/FPC/COG的可靠性,一般采用高温存储试验或温度循环试验(试验项目7、9)。

4.5.3 验证LCD漏墨，低温气泡等，一般采用低温储存试验（试验项目10，时间4H）。

4.5.4 验证触摸屏/LCD导电点的导通可靠性，PIN脚可靠性，一般采用温度循环试验（试验项目9）；

4.5.5 单独验证背光的可靠性，参考《背光源可靠性试验指引》

4.5.6 单独验证LCD的可靠性，参考《LCD可靠性试验指引》

5、实验过程

5.1  对于样品阶段的实验项目，在样品完成后由样品检查员直接取样进行试验，过程所需设备与接线工作由样品项目工程师提供，结果纪录在《样品检测报告》中。

5.2  对于例行的首次批量试产/常规生产过程中的试验项目，制造在功能外观检查完成后，按上述1-7项目要求准备样品，并填写相应的《试验需求表》中的相应项目，并约定需完成时间，由试验员按进度进行试验，对其中涉及到需准备的工装、测试架、单片机、驱动程序、信号线等，需由制造准备并提供（对使用通用测试芯片与测试工装的，由实验室自行准备），有需要进行电路接线处理工作的，由负责试验的工程师处理，对COG等难以接线的工作，由工装协助完成。对于批量性实验的须由申请部门安排人员协助，对于特殊性实验和急需完成的实验，申请部门需提前2H书面通知到实验室，以便做相关准备工作。

5.2.1 其中高低温工作及静电的实验结果，由试验员得出并将结果纪录在《试验报告单》中。

5.2.2 其他试验完成后，产品返回生产线，由对应产品的最终全检员，进行检查判定并将结果纪录在《试验报告单》中。

5.2.3 静止后测试直接在生产线上执行并检查结果直接体现在工位流程卡中，由品质员核查完成情况。

5.3  对于因为生产异常需进行的特殊试验，由职能部门（工程/研发/品质）分析并确定特殊试验方案，填写相应的《试验需求表》，并经负责试验主管工程师或者品质主管确认，由产品对应的工位人员负责准备样品送试验并按上述5.2进行试验与结果判定。库存品的试验样品由QA准备与检查。

5.4  试验检查要求：

5.4.1 所有产品需是在试验前进行外观显示检查OK的（或有不影响实验验证项目的外观不良，但需纪录与标识清楚），试验后需进行外观功能检查，对有增检查要求的，按上面试验项要求进行。

5.4.2高低温储存、高温高湿、温度循环/冲击试验，取出产品并回复常温后放置30~60分钟，进行外观和性能检查；跌落实验、振动实验后的产品静止2小时后试验，验证LCD漏墨，气泡的低温储存试验，在低温下检查完成。

6、  试验后的处理

6.1  样品实验后由研发部统一收集整理和处理；

6.2  首批/常规量产中；高温工作、低温工作、振动，跌落实验后的产品经检查合格的可以正常出货。高温高湿、裸片产品跌落实验、温度循环、静电实验后的产品不能用于出货，由QA统一整理和处理。

6.3  对高低温储存，高温高湿，温度循环/冲击实验，静电实验的不合格品，由申请部门按异常提起由技术部门进行分析，按不合格品控制流程处理。对跌落实验、振动实验、静止后测试项目（含验证LCD漏墨，气泡的低温储存试验），当批量试验后全检的不良率在0。2%时，需产品静止后12H（或再进行相应的实验后）再进行检查，直到不合格率低于0.2%,否则应该进行返工或提起异常处理。

6.4  进行可靠性试验的老化产品，将保留半年以上。对于产线批量性或抽取一定比率进行12H/24H的常规性老化产品。实验后的良品与不良品将移交申请部门进行处理。

6.5  对于COB、COG类产品通电老化，需要确定老化最后4H内出现的不良率控制在≤0.2%,否则需要分段延长12H,直到不良比率在控制范围内。对于抽取一定数量的老化，当出现与老化有关的不良，需要按试验数加抽老化或改为对整个订单进行100%老化，直到不良率在≤0.2%。

7.   注意事项

7.1  当参数设定跟客户要求发生矛盾时，以与客户沟通后的要求为准

7.2  实验的样本，有特殊要求或需求时，按特殊要求和需求在进行前确定

7.3  实验时参考“产品文件”要求和相关试验指引进行实验。

7.4  冷热冲击、高温储存的产品，实验均要撕保护膜（除非是LCD为原偏光片自带的保护膜）且产品LCD面朝上。

7.5  冷热冲击中的低温实验须用塑料袋包住产品。

7.6  当实验条件在-20℃~80℃，可使用申请部门的周转盘，当超出此条件时，实验须用耐温的特殊吸塑盘或实验室专用的周转盘。

7.7  针对LCD+HS，LCD+HS+LED，LCD+LED，LCD+TP，LCD+HS+TP采用吸塑盘包装的产品，在首次量产需要增加做静压实验，实验条件参考《LCD可靠性实验作业指引》

8.  流程图